論文查重產(chǎn)品
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芯片的抽樣測試和生產(chǎn)全測有什么區(qū)別？
對于芯片來說，有兩種類型的測試， 抽樣測試和生產(chǎn)全測 。 抽樣測試，比如設(shè)計過程中的驗(yàn)證測試，芯片可靠性測試，芯片特性測試等等，這些都是抽測，主要目的是為了驗(yàn)證芯片是否符合設(shè)計目標(biāo)，比如驗(yàn)證測試就是從功能方面來驗(yàn)證是否符合設(shè)計目標(biāo)，可靠性測試是確認(rèn)最終芯片的壽命以及是否對環(huán)境有一定的魯棒性，而特性測試測試驗(yàn)證設(shè)計的冗余度。